SL-110 Sistema de Medición de por Vida del Portador

SL-110

NVIS TECHNOLOGIES

Nuevo

SL-110 Sistema de Medición de por Vida del Portador se utiliza para medir la vida útil de la portadora minoritaria en una placa solar utilizando el método de Decaimiento de voltaje de circuito abierto (OCVD) y el método de Transitorio de recuperación inversa (RRT). Este es un sistema único que consiste en un generador de onda cuadrada incorporada (utilizado para el método RRT), una placa solar, un LED (fuente de luz / flash) y una conectividad opcional para PC (a través de USB)

Categoría Energía Solar

- Se requiere un generador de onda cuadrada de AC incorporado para el método RRT.
- Pantalla LCD (16x2) para indicaciones.
- Conectividad USB para adquirir valores de V_oc en el método OCVD para PC para su análisis.
- Cables y conectores BNC para salida de señal sin ruido.

- Para medir la caída de voltaje de circuito abierto de una placa solar de silicio cristalino.
- Para medir el transitorio de recuperación inversa de la placa solar.
- Para calcular la vida útil de la placa solar por los dos métodos.
- Comprender el concepto de vida en placas solares.
- Comprender la relación entre la caída de voltaje de circuito abierto y la vida útil de las placas solares.
- Comprender la placa generada de corriente inversa debido a los portadores minoritarios y el tiempo de almacenamiento de los portadores en las placas solares.
- Capacidad de medir y calcular la vida útil de los portadores en placas solares.

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