Nvis 6115 Interferômetro de Michelson
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Nvis 6115 Interferômetro de Michelson
Nvis 6115 Interferômetro de Michelson
Nvis 6115 Interferômetro de Michelson

Nvis 6115 Interferômetro de Michelson

Referencia: Nvis6115 - Marca: NVIS TECHNOLOGIES

Nvis 6115 Michelson Interferometer é uma plataforma ideal para melhorar a educação, formação, habilidades e desenvolvimento entre as mentes jovens.

- Design patenteado
- Óptica de alta qualidade
- Peças usinadas com base altamente estável
- Micrômetro de precisão com resolução de 1 mícron
- Projeto mecânico de precisão para alinhamento e movimento do espelho
- As franjas podem ser obtidas com diferentes tipos de fontes de luz (He-Ne LASER, Diodo LASER)
- Tutorial de produto online

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Nvis 6115 Interferômetro de Michelson

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Nvis 6115 Michelson Interferometer é uma configuração única para a demonstração de interferometria. O interferômetro Michelson foi usado no famoso experimento Michelson-Morley para mostrar a constância da velocidade da luz e a evidência da relatividade especial. O padrão de interferência é observado dividindo um feixe de luz em dois caminhos, saltando os feixes pelos espelhos e recombinando-os.

As diferentes rotas podem ter diferentes comprimentos ou ser compostas por diferentes materiais para criar franjas de interferência alternativas. Nvis 6115 tem um design compacto e é muito fácil de operar. A configuração pode ser usada com diferentes tipos de fontes, como LASER LASER de He-Ne, LASER LASER.

Base: Base MS usinada de 6kg com folha de borracha fixada na parte inferior para reduzir a vibração.

Micrômetro
Menor contagem: 0,001 mm
Faixa: 0-25 mm

Divisor de feixe
Tipo: cúbico
Tamanho (mm): 15 x 15 x 15
R% / T%: 50/50
Nivelamento: ë / 4 (a 632 nm)

Espelho
Tipo: Circular
Diâmetro (mm): 25 (5 mm de espessura)
Segundo espelho: fixo no divisor de feixe

LASER
Tipo: Diodo LASER (operado por bateria)
Comprimento de onda: 630nm

Opcional
A) He-Ne LASER (630nm) com fonte de alimentação de 2mW

Nota: He-Ne LASER é recomendado para a realização de experimentos.

Escopo de Aprendizagem

- Estudo para entender a interferometria de dois feixes usando o interferômetro de Michelson.
- Estudo para geração de padrões de franjas circulares
- Para gerar padrões de franjas paralelas
- Para calcular o comprimento de onda da fonte de luz fornecida

Configuração experimental que contém:

a. Base: Base usinada MS de 6Kg com folha de borracha fixada na parte inferior para reduzir as vibrações.

b. Micrômetro: contagem mínima: 0,001 mm

b. Micrômetro: contagem mínima: 0,001 mm

c. Divisor de feixe: Tipo - Cúbico, tamanho-15x15x15, R% T% -50 / 50, Nivelamento-lemda / 4

c. Espelho: Tipo Retangular, Tamanho-50x25x2

d. Laser: Tipo-diodo LASER (operado por bateria), comprimento de onda-630nm

OPÇÃO1: Laser He-Ne (630 nm) com fonte de alimentação (2mW)

OPÇÃO2: Lâmpada de sódio com fonte de alimentação Nvis653

Categoria
Luz

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