RGK-NEXCG-II Analizador elemental por EDXRF con excitación monocromática

Este espectrómetro NEX CG II permite un análisis elemental rápido y no destructivo sobre una amplia variedad de muestras (sólidos, líquidos, polvos, aleaciones y películas delgadas).
Detecta elementos desde el sodio (11Na) hasta el uranio (92U) y en concentraciones desde pocas ppm hasta muy altos porcentajes en peso.
La excitación polarizada junto con su detector de silicio SDD de alta resolución ofrece límites de detección más bajos.
Los análisis pueden llevarse a cabo en aire, en vacío o en atmósfera de helio para mejorar la detección de elementos ligeros.
El espectrómetro NEX CG II cuenta con varias opciones de muestreadores automáticos, siendo el estándar de 15 posiciones.
El software dispone del módulo RPF-SQX para efectuar análisis semicuantitativos en ausencia de estándares y la interfaz EZ para un funcionamiento rutinario.

Ventajas y características clave:
- Análisis elemental no destructivo de sodio (Na) a uranio (U)
- Análisis elementales rápidos de sólidos, líquidos, polvos, recubrimientos y películas delgadas.
- Excitación indirecta para límites de detección excepcionalmente bajos
- Tubo de rayos X de 50 kV y 50 W de alta potencia
- Detector de deriva de silicio (SDD) de alto rendimiento y área grande
- Análisis en aire, helio o vacío.
- Software QuantEZ® potente y fácil de usar con interfaz de usuario multilingüe
- Software avanzado de parámetros fundamentales RPF-SQX con Scattering FP
- Algoritmo avanzado Rigaku Profi le Fitting (RPF) para la deconvolución máxima
- Varios cambiadores de muestras automáticos con capacidad para muestras de hasta 52 mm
- Bajo costo de propiedad respaldado por una garantía de 2 años